高靈敏度光譜儀適用于熒光測(cè)量、DNA測(cè)序、拉曼分析等領(lǐng)域的光譜分析和檢測(cè)，針對(duì)弱光環(huán)境。它是一種科學(xué)光譜儀，常用于熒光測(cè)量、DNA測(cè)序、拉曼分析等應(yīng)用領(lǐng)域。具有高量子效率，其堅(jiān)固的設(shè)計(jì)使其具有高信噪比性能和穩(wěn)定性，可以通過選擇內(nèi)部快門來優(yōu)化暗噪聲的測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)微光檢測(cè)，減少光譜誤差。具有重金屬痕量檢測(cè)能力，快速基本參數(shù)法提高了元素的準(zhǔn)確定量水平。兩項(xiàng)核心技術(shù)的結(jié)合為XRF元素檢測(cè)帶來了新的應(yīng)用前景。

　　

　　1、采用雙曲面曲面晶體單色器優(yōu)化元素激發(fā)效率，降低X射線管的連續(xù)散射射線背景，提高元素?zé)晒馍渚€的信噪比。

　　

　　2、硅漂移探測(cè)器（SDD）是能量色散X射線熒光光譜儀的核心部件，其性能取決于晶體面積、窗口材料、計(jì)數(shù)率、分辨率等。

　　

　　3、高靈敏度光譜儀XRF分析的難點(diǎn)在于元素的熒光強(qiáng)度不僅與樣品中元素的含量有關(guān)，還與其他元素的含量有關(guān)，即所謂的基質(zhì)吸收增強(qiáng)效應(yīng)。這種物理效應(yīng)使得選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)樣品變得困難。如果選擇的標(biāo)準(zhǔn)樣品基質(zhì)不一致，不能覆蓋待測(cè)樣品中各元素的含量范圍，會(huì)給實(shí)際樣品分析帶來誤差。基本參數(shù)法通過計(jì)算從X射線熒光光譜產(chǎn)生到檢測(cè)的各個(gè)環(huán)節(jié)，建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型。基本參數(shù)法消除了因不同類型樣品的基體差異而引起的背景差異，減少了分析誤差，通過少量標(biāo)準(zhǔn)樣品的校正，獲得了更準(zhǔn)確的元素定量結(jié)果。

　　

　　4、優(yōu)化鎘的檢測(cè)能力。鎘是一種有毒的重金屬，在環(huán)境保護(hù)和食品安全領(lǐng)域備受關(guān)注。常規(guī)XRF對(duì)鎘的影響很小（kα：23.1kev）是激發(fā)和檢測(cè)的挑戰(zhàn)。通過鎘的單色聚焦激發(fā)，高靈敏度光譜儀對(duì)鎘的檢出限達(dá)到0.06mg/kg。